產(chǎn)品分類(lèi)
用于FEI/Thermo雙束系統的EBSD-3D樣品臺
所屬分類(lèi)：
產(chǎn)品詳情
荷蘭M2N供應的EM Tec系列SEM樣品臺，包括多種使您更容易和更快地將樣品直接裝載到SEM中的樣品臺。樣品通過(guò)在鉗口間夾緊或用螺釘固定來(lái)裝載。一旦樣品被正確固定，樣品不會(huì )松動(dòng)漂移，這增加了成像和分析的空間分辨率。采用該系列樣品臺，也不會(huì )出現氣體釋放或污染問(wèn)題。所有樣品臺既可以直接使用，也可以加裝適配器與掃描電鏡載物臺一起使用，幾乎可以與任何標準的掃描電鏡完美兼容。此外，還供應臺式掃描電鏡的樣品臺。
SEM樣品臺種類(lèi)繁多，限于篇幅，本文僅介紹其中的用于FEI/Thermo雙束SEM-FIB系統的專(zhuān)用EBSD-3D樣品臺（EBSD-3D sample holder for FEI / Thermo DualBeam SEM-FIB systems）。
EBSD-3D樣品臺
荷蘭M2N供應的EBSD-3D樣品臺專(zhuān)用于FEI/Thermo雙束場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡-聚焦離子束（FE-SEM/FIB）系統，可實(shí)現樣品的FIB銑削與EBSD數據采集功能。通過(guò)在銑削位置與EBSD觀(guān)測位置之間進(jìn)行180°重復旋轉，可獲取樣品的三維EBSD圖譜數據。該樣品臺需配合FEI EBS3軟件及FEI/Thermo雙束系統使用。
EBSD-3D樣品臺支持樣品表面與截面分析：其設計包含54°（短斜面）和36°（長(cháng)斜面）兩種傾角界面，通過(guò)M6細牙螺紋固定在樣品臺中心基座，工作時(shí)樣品臺需預置16°傾角。
圖片1：截面分析
圖片2：大表面分析
樣品需固定在EBSD-3D樣品臺的短斜面。結合16°預傾角，實(shí)際傾角為36°+16°=52°，此時(shí)樣品截面垂直于FIB束柱。當樣品臺旋轉180°后，銑削表面處于54°+16°=70°理想傾角，適用于EBSD數據采集。
進(jìn)行大表面分析時(shí)，樣品需固定在EBSD-3D樣品臺的長(cháng)斜面。在16°預傾角配合下，實(shí)際傾角為36°+16°=52°，使樣品表面垂直于FIB束柱。樣品臺旋轉180°后，銑削表面同樣處于54°+16°=70°最佳EBSD采集傾角。
EBSD-3D樣品臺的采用真空級鋁合金材質(zhì)，是與FEI EBS3
軟件用戶(hù)協(xié)同研發(fā)的專(zhuān)業(yè)配件。
詳細訂購信息：
具有鋼結構工程專(zhuān)業(yè)承包二級資質(zhì)、建筑工程施工總承包貳級資質(zhì)；公司主營(yíng)產(chǎn)品包括重鋼、輕鋼、網(wǎng)架及檁條、彩鋼板等鋼結構產(chǎn)品；近年來(lái)，公司承接了國內外大型結構件、橋梁、車(chē)庫、標準化廠(chǎng)房等具有較大影響力的一系列項目；產(chǎn)品遠銷(xiāo)白俄羅斯、贊比亞、印尼等國家，得到了一致好評。
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